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SATA@PCIe二合一测试系统

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SATA@PCIe二合一 智能化测试系统采用 Win10 操作系统平台,通过开放式脚本模式,可以任意的修改高低温箱的温度及SATA@PCIe二合一产品的测试项目,通过 LINUX 系统和网路交换机进行数据传输,实现一键式操作,网络化控制,节省人工, 实现智能化数据管理,永久保留测试结果。

整机主要组成部分

1、 整机测试系统主要包括高低温箱、PC 主板、供电板、PCIe背板、SATA背板、产品工装、后仓

TEST PC 和测试软件等硬体部分

硬件部分主要由如下几部分组成:

l 定制化高低温试验箱;

l 压缩机机组;

l 整机电路及电源控制部件;

l 千兆网路交换机;

l 测试专用绝缘板;

l 耐高低温专用硅胶密封件;

    l控制主机(Console 主机);

    l测试主板(TEST PC 测试主板);

l PCIe背板;

l SATA背板;

l 供电板(SATA@PCIe二合一测试板的供电板);

l 治具(测试用专用SATA@PCIe二合一治具);

SATA@PCIe二合一测试软件  

1.1说明

这是为SATA@PCIe二合一测试可靠性及长时间稳定性运行所设计的测试系统,其中包含硬件,软件及结构设计,目的是尽量让测试自动化,测试配置项目更弹性、灵活。可用测试通道更多更省空间,详见后续更多说明。 

 

1.2 系统特色

    将自制电路板 (PCBA)及治具固定在订制型 Chamber (高低温箱) 之内,搭配数片到数十片测试主板 (视 Chamber 大小而定,小型 Chamber 用于SSD 验证,大型 Chamber 用于 SSD 量 产 ),能有效节省空间并增加待测板数量(可以轻易建置多套)。

     一块测试主板可以连接并同时测试 8片SATA及8片PCIe 。

       自制 Linux 及 Windows 测试软件,  测试内容可由一个或多个测试脚本来配置,支持多种断电测试,Burn-In-Test,功耗测试等。

 

      可以由一台测试主机通过网络来连接控制数台测试主板,由Windows 端的测试主机软件的脚本   方式来自动控制Chamber 升降温,执行多个测试项目,测试过程中生成比较详细test log,以协助工程师进行错误分析。

     自制 Linux 测试软件通过串口接口与自制供电板连接。

1.3测试软件

每片测试主板运行在Linux系统中,自制测试软件可以依据命令行参数来执行前述测试。此测试软件可以单机执行模式, 或是通过网线连接,由另一台测试主机 (Console PC)来指挥测试。

 

 

测试主机运行在Windows 10系统中, 执行自制的测试软件,此软件以脚本的方式控制运行1  到 N   台前述测试主板执行哪些测试内容, 参数, 时间…等等, 并以脚本中设定的温度对Chamber  进行远程控制升降温。所以,  只要编辑好要测试的脚本,操作员只需选取对应的测试脚本,  即可自动完成高低温测试.。脚本编写的很简单,也可以因为需求编写的比较复杂。

 

下图是一台具备8片主板的中型 Chamber 的测试主机软件执行中画面 (PCIe SSD 测试)。

TestPC 概述

Test PC 主要用于测试 SSD  的正常和异常的上下电、读写压力、数据比对、全盘读写、指定Pattern 对介质的老化测试、新增坏块的统计和协议测试等等;

Test PCT  主要分为如下几种PCT 、BIT 、MDT 、FDS。

PCT(Power Cycling Test):各种 Pattern异常断电测试,测试 SSD算法的断电处理和重建,验证异常断电时对数据的完整性。

 

BIT(Burn-In Test):验证各种Pattern顺序或随机读/写是否正常,以及各种Pattern对媒介的影响。

MDT(Multi-Drive Test):验证SSD支持NVMe协议的命令集合,对SSD发送NVMe协议中的命令,并确认结果有无问题。

FDS(Full Drive Scan ):对SSD进行的全盘读写操作,验证映射表是否正确;

 

Test PC详细功能

Test PC  的详细功能分为如下四部分

      PCT  (Power Cycling Test)

    各种Pattern  的配置;

    读/写数据大小的配置;

    顺序与随机读写比对配置;

 验证异常断电与正常断电数据完整性; 

 脚本控制上电与断电时间;

 指定LBA 的数据读/写操作;

 测试 SSD算法的断电处理与重建;

                 测试盘的稳定性与电容负载需求值;

    测试盘启动的时间;

 测试产品电源管理功能的稳定性; 

 高低温下测试板级电子元器件焊接情况;

 可以用于验证市面上断电保护SSD产品的情况;     

 验证SSD对各种主板的兼容性;

 自动保存测试Log  并且定时上传;

     BIT  (Burn-In Test)

 统计各种Pattern对媒介的影响;

 产品各种Patten 的老化测试;

 全盘并且所有Pattern 自动测试;

    块大小和Pattern 可以在脚本中配置;

 可以设定测试时间;

 测试过程中统计新增坏块(需要在Smart信息中配置这个功能);

    自动保存测试Log  并且定时上传;

    MDT ( Multi Drive Test)

    块大小可配置;

 验证产品接口协议的兼容性;

 验证产品对协议规定命令支持情况,并对其进行统计; 

 可以指定命令对产品进行相关测试;

 验证DATA  命令的读/写操作,并且对数据进行比对;    

 验证No-Data命令支持的情况;

     自动保存测试Log  并且定时上传;

   FDS  (Full Drive Scan)

 全盘读写操作,验证盘映射表的正确性,并进行比对操作;

    Pattern和块大小可配置;

 可设置时间进行读/写操作;

                  自动保存测试Log  并且定时上传;

 

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