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SATA 高低温BIT智能测试箱

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SATA 高低温BIT智能测试箱具有高低温测试功能,可确保SATA盘在各种环境温度条件下的测试其稳定性和可靠性。同时,它还支持BIT功能,可以快速诊断和定位故障,提高测试效率和准确性。这款智能测试箱是SATA盘量产测试设备的理想选择。

整机主要有如下一些特性:

l 支持 SATA 的量产测试片数定制化,例如 30 片、36 片、42 片、48 片、54 片、72 片、100 片、160 片、200 片等等;

l 支持研发微小型定制化,例如 6 片、12 片等等;

l 支持(-70 度~+180度)的测试;

l 支持异常断电测试和老化测试;

l 支持自动化温控测试;

l 支持全部采用软体进行智能化控制测试;

l 支持测试测试软体的定制化;

l 支持箱内风速与温度均衡;

l 支持快速升降温控制;

l 支持网络化控制,可以异地控制测试并看测试结果;

l 支持APP远程控制测试;

SATA 接口 SSD 系统概述

SSD的智能化测试系统的控制电脑采用Win10操作系统平台,通过B/S架构Web管理界面或者远程命令行,可以任意的修改测试温箱的温度及SATA产品的测试项目,通过连接Linux测试PC内部的测试服务,实现一键式操作,网络化控制,节省人工,实现智能化数据管理,永久保留测试结果。

软硬一体测试系统架构

该测试设备主要支持针对 SATA SSD 产品的性能/功能与可靠性测试,兼容 SATA2.5 寸,3.0 寸 SSD,其中 Linux 测试主机内置测试软件提供一系列测试脚本,针对客户的各种常用具体使用场景,我们也可以帮助客户 定制测试脚本。测试软件软件主要功能如下:

 

SATA 协议测试

针对 SATA 协议的文档,我们开发了完整的测试脚本,覆盖了 SATA 配置空间寄存器、SATA 寄存器、

Admin 命令、IO 命令、PRP、队列、中断、初始化等方面。

 

行业标准测试

基于 IOWorker,我们提供了非常灵活和稳定的性能测试以及可靠性测试方案,覆盖了 SNIA 和 JEDEC 等标准定义的各种不同的读写模式和测试流程,并能统计 IO 的带宽、延迟、一致性等各种数据。利用 Python 的第三方图形库,我们可以输出专业的测试图表和报告。

 

研发回归测试

SSD 开发和测试工程师利用我们提供的 Python 接口和各种测试模板,可以快速构造出新的测试脚本, 帮助开发工程师复现和定位问题。利用第三方 CI 工具,用户可以实现敏捷开发的流程。

 

错误注入测试

借助第三方电源控制设备,我们能的测试脚本可以在 SATA 数据链路上向 SSD 设备注入各种错误,可以 实现异常掉电、热插拔、信号毛刺、电压拉偏等操作。该软件也可以注入各种非法的命令和寄存器访问,配 合不同的 IOWorker,实现对 SATA 设备的大压力测试。(该部分测试建议常温)

测试系统概述

SSD 智能化测试系统软件主要包括 Test PC、Console、DMS、QMS 和 Windows 与 Linux 等等。

  1. Test PC 概述

Test PC 主要用于测试 SSD 的断电、大量读/写比对、全盘读/写、指定 Pattern 对媒介的老化测试、新增坏块的 统计和协议测试等等;Test PCT 主要分为如下几种 PCT、BIT、MDT 与 FDS。

PCT (Power Cycling Test):各种 Pattern 异常断电测试,测试 SSD 算法的断电处理和重建,验证异常断电时对 数据的完整性。

BIT(Burn-In Test):验证各种 Pattern 顺序或随机读/写 是否正常,以及各种 Pattern 对媒介的影响。

MDT(Multi-Drive Test):验证 SSD 是否支持 ATA1-8 规格的命令,将对 SSD 发送所支持命令,并确认结果有无 问题。

FDS(Full Drive Scan):对 SSD 进行的全盘读写操作,验证映射表是否正确;​​​

Test PC 详细功能

Test PC 的详细功能分为如下四部分

一、 PCT(Power Cycling Test)
      • 各种 Pattern 的配置;

Ø 读/写 数据大小的配置;

Ø 顺序与随机读写比对配置;

Ø 验证异常断电与正常断电数据完整性;

Ø 脚本控制上电与断电时间;

Ø 指定 LBA 的数据读/写操作;

Ø 测试 SSD 算法的断电处理与重建;

Ø 测试 UPS 稳定性与电容负载需求值;

Ø 测试盘启动的时间;

Ø 测试产品电源管理功能的稳定性;

Ø 测试盘的 UPS 老化测试;

Ø 高低温下测试板级电子元器件焊接情况;

Ø 可以用于验证市面上断电保护 SSD 产品的情况;

Ø 验证 SSD 对各种主板的兼容性;

      • Trim 的验证;

Ø 自动保存测试 Log 并且定时上传; 

二、 BIT(Burn-In Test)

Ø 验证各种 Patten 的顺序读/写比对与性能;

Ø 验证各种 Patten 的随机读/写比对与性能;

Ø 统计各种 Pattern 对媒介的影响;

Ø 产品各种 Patten 的老化测试;

Ø 全盘并且所有 Pattern 自动测试;

      • Sector 数和 Pattern 可以脚本配置;

Ø 可以设定时间来测试读/写比对验证;

Ø 测试过程中统计新增坏块;

Ø 指定 Frame 大小,测试产品功能的全面性;

Ø 验证 DDR、Flash 与接口的数据通路;

Ø 验证 SSD 的随机读/写性能稳定性;

Ø 自动保存测试 Log 并且定时上传; 

三、 MDT(Multi Drive Test)

      • Sector 数可配置;

Ø LBA28 与 LBA48 可配置;

Ø 验证产品接口协议的兼容性;

Ø 验证产品对协议规定命令支持情况,并对其进行统计;

Ø 可以指定命令对产品进行相关测试;

Ø 验证 DATA 命令的读/写操作,并且对数据进行比对;

Ø 验证 No-Data 命令支持的情况;

Ø 自动保存测试 Log 并且定时上传;

 四、 FDS(Full Drive Scan)

Ø 全盘读写操作,验证盘映射表的正确性,并进行比对操作;

      • Pattern  和 Sector 数可配置;

Ø 可配置时间进行读/写操作;

      • 筛出 Flash 的坏块与 Weak Block;
      • 验证 DDR 与 Flash 的所有 Block;

Ø 验证SSD算法映射表是否正确;

Ø 自动保存测试Log并且定时上传;

 

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